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供應(yīng)二手50KN英斯特朗拉力試驗(yàn)機(jī)3369
產(chǎn)品：50KN英斯特朗拉力試驗(yàn)機(jī)3369型號(hào)：3369配套：手動(dòng)夾具5KN,氣動(dòng)夾具20KN，氣動(dòng)夾具1KN，模量引伸計(jì)儀器名稱：電子萬能材料試驗(yàn)機(jī)英文名稱：Electronicuniversalmaterialtestingmachine所屬分類：物理性能測試儀器>力學(xué)性能測試儀器>其他學(xué)科領(lǐng)域：其他主要技術(shù)指標(biāo)：1、
價(jià)格：365000.0元/套
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手日立掃描電鏡S-3700N
日立掃描電鏡S-3700N日立掃描電鏡S-3700N特大型的樣品室，還可同時(shí)安裝EDX/WDX/EBSD等配件。其可載樣品高度可達(dá)110mm。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)優(yōu)中心傾斜、旋轉(zhuǎn)、圖像導(dǎo)航系統(tǒng)、樣品臺(tái)追蹤、軌跡存儲(chǔ)與中心復(fù)位等樣品臺(tái)的馬達(dá)控制功能一應(yīng)俱全。研究超大，超重，超高樣品的
價(jià)格：248000.0元/套
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手日立高新離子研磨裝置IM4000
日立高新離子研磨裝置IM4000日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHIIonMillingSystemIM4000）的混合模式帶有兩種研磨配置：斷面加工：將樣品斷面研磨光滑，便于表面以下結(jié)構(gòu)高分辨成像。平面研磨：將樣品表面均勻研磨5平方毫米，從不同角度有選擇地研磨，以便突出樣品
價(jià)格：186000.0-236000.0元/套
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手日立 FIB-SEM三束系統(tǒng)NX2000
日立FIB-SEM三束系統(tǒng)NX2000產(chǎn)品介紹：追求最完美的TEM樣品制備工具在尖端設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為不可或缺的工具。近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司，整合了高性能FIB技術(shù)和
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)光學(xué)儀器
帕納科ZetiumXRF光譜儀X射線熒光光譜(XRF)能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。Zetium光譜儀專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能，可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀
產(chǎn)品名稱：日本小坂KOSAKA臺(tái)階儀型號(hào)：ET4000L臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax…），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手日本電子場發(fā)射掃描電鏡
產(chǎn)品名稱：日本電子場發(fā)射掃描電鏡型號(hào)：JSM-7500產(chǎn)品參數(shù)：1.主動(dòng)式減震器2.最先進(jìn)的磁懸浮分子泵系統(tǒng)，無需UPS保護(hù)3.標(biāo)配的五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)全對(duì)中樣品臺(tái)4.全自動(dòng)樣品更換氣鎖5.全自動(dòng)樣品監(jiān)控系統(tǒng)6.全自動(dòng)物鏡光闌7.多通道顯示系統(tǒng)8.自動(dòng)減速系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置技術(shù)參
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手美國貝克曼顆粒細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
產(chǎn)品：美國貝克曼顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀產(chǎn)品型號(hào)：MULTISIZER4EMultisizer4e可檢測的小極限為0.2微米（200納米），因此可以用于如線粒體這樣的細(xì)胞器的計(jì)數(shù)、測定大小及確定質(zhì)量分布情況。Multisizer4e是您研究細(xì)胞的重要工具。?精確的計(jì)量設(shè)備，可確定細(xì)胞濃度
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手德國Nordson X射線探傷儀
產(chǎn)品名稱：德國NordsonX射線探傷儀型號(hào)：XT-6產(chǎn)品簡介NordsonX射線檢測系統(tǒng)是Quadra系列產(chǎn)品中精度的設(shè)備,可用于各種二維和三維X射線應(yīng)用，滿足苛刻的電子市場要求；非常適合于任何研究、開發(fā)、故障分析或質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室。10W以內(nèi)0.1微米特征分辨率(可選配20W)使Quad
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手島津顯微紅外光譜儀
產(chǎn)品名稱：島津顯微紅外光譜儀型號(hào)：AIM-8800自動(dòng)化的紅外顯微鏡可方便的控制樣品臺(tái)移動(dòng)，光圈設(shè)置以及聚焦，所有操作都可通過電腦軟件完成，同時(shí)它支持顯微透射、顯微反射和顯微ATR測量模式，這大大擴(kuò)展了AIM-8800的應(yīng)用領(lǐng)域，在儀器設(shè)計(jì)時(shí)不但精心考慮到了
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手島津電子拉力試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)品：島津電子拉力試驗(yàn)機(jī)型號(hào)：AGX-X10KNAGS-X系列試驗(yàn)機(jī)采用主機(jī)與控制裝置一體化結(jié)構(gòu)，占地面積小，是操作簡便的小型化電子試驗(yàn)機(jī)。該系列機(jī)已經(jīng)取得國際CE認(rèn)證，是目前業(yè)內(nèi)性價(jià)比較高的試驗(yàn)機(jī)。歡迎來電垂詢,詳談
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
供應(yīng)二手奧林巴斯電鏡TM3030Plus
產(chǎn)品名稱：奧林巴斯電鏡TM3030Plus型號(hào)：TM3030Plus日立高新推出新款臺(tái)式電鏡TM3030Plus。TM3030Plus配置了高靈敏度的探測器，可以在低真空狀態(tài)下觀察二次電子圖像，并且無需樣品制備即可進(jìn)行實(shí)時(shí)二次電子成像。日立高新在2005年4月推出了世界上首臺(tái)臺(tái)式電子顯微鏡，
價(jià)格：電議或面議
所在地：集美區(qū)發(fā)布日期：2023/06/23
